工业CT图像中弱边缘尺寸测量方法

作者：齐子诚; 倪培君; 郭智敏; 唐盛明; 王晓艳; 李红伟; 左欣; 乔日东; 张维国; 谢宝奎; 刘子瑜

来源：2019-04-16, 中国, ZL201610651798.5.

本发明涉及一种工业CT图像中弱边缘尺寸测量方法,其包含如下步骤：步骤一、分别采集被测物体和标准试块的CT图像,其中标准试块的密度和厚度与被测物体一致；步骤二、获取标准试块的CT图像垂直界面一维点扩散函数；步骤三、获取被测物体待测尺寸的灰度曲线；步骤四、对被测物体待测尺寸的两端边界分别进行复原重构；步骤五、根据像素对应实际距离对被测物体待测尺寸长度进行测量。与现有技术相比,本发明的优点在于：采用本发明提供的方法获取的被测物体待测尺寸速度快、精度高。

• 出版日期2019-4-16
• 单位中国兵器科学研究院宁波分院