ADP晶体(100)面相变界面的微观结构

作者：曹亚超; 李明伟; 喻江涛; 王晓丁; 朱廷霞

来源：人工晶体学报, 2010, (06): 1359-1366.

DOI：10.16553/j.cnki.issn1000-985x.2010.06.043

• 相变界面
• 微观结构
• 粗糙度
• 相变驱动力
• AFM phase transition interface
• micro-structure
• roughness
• phase transition drive force
• AFM

ADP晶体{100}面族生长的实时与非实时AFM(Atomic Force Microscopy)研究表明,其相变驱动力为0.01~0.04kT/ωs时,ADP晶体(100)面的平均面粗糙度和均方面粗糙度均不到0.3 nm,小于该晶面间距0.75 nm,微观结构表现为光滑界面,与夫兰克模型、特姆金模型相符,并观测到螺位错生长;在相变驱动力为0.053~0.11kT/ωs时,ADP晶体的(100)面的平均面粗糙度和均方面粗糙度介于1.8~4.2 nm,大于该晶面间距0.75 nm,微观结构粗糙度增加,趋向于粗糙界面,可用特姆金的弥散界面模型解释,界面上观测到多二维核生长。

• 出版日期2010
• 单位重庆大学