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Models and related mechanisms of NBTI degradation of 90 nm pMOSFETs
作者：Cao Yanrong
*
; Ma Xiaohua; Hao Yue; Yu Lei; Zhu Zhiwei; Chen Haifeng
来源：
Pan Tao Ti Hsueh Pao/chinese Journal of Semiconductors
, 2007, 28(5): 665-669.
Negative bias temperature instability (NBTI)
Temperature model
Time model
出版日期
2007-5
单位
西安电子科技大学
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