大电流冲击后ZnO压敏电阻交流老化特性的分析

作者：陈璞阳; 李祥超; 周中山; 叶挺; 陈则煌

来源：电瓷避雷器, 2014, (04): 43-48+54.

DOI：10.16188/j.isa.1003-8337.2014.04.010

• ZnO压敏电阻
• 冲击老化
• 交流老化
• 电子陷阱
• 离子迁移
• 热破坏 ZnO varistor
• impulse aging
• AC aging
• electron trap
• ion migration
• thermal destruction

针对ZnO压敏电阻经受多次8/20雷电流冲击后交流老化特性变化的问题,通过对ZnO压敏电阻老化机理的理论分析,并对ZnO压敏电阻样品进行不同次数的冲击老化实验后再进行交流老化实验测量其静态参数的变化,发现适当次数的大电流冲击会增强ZnO压敏电阻的交流耐受能力;ZnO压敏电阻的U1 mA和U0.1 mA在交流老化过程中呈现小幅上升、缓慢下降、快速减小的趋势,非线性系数则呈现持续缓慢降低而后快速下降的趋势;根据实验结果,得出电子陷阱及离子迁移是交流老化初始和中期的主要老化机理,而热破坏在老化末期起主要作用。

• 出版日期2014
• 单位南京信息工程大学