随着数字集成电路的不断发展,集成电路的瞬时功耗也在不断提高,对于芯片供电具有一定的挑战。本文结合一款瞬时功耗较大的芯片,介绍了去耦电容在ATE测试板上的具体应用,说明了在芯片测试过程中去耦电容的重要性。
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