采用基于TI DLP技术的结构光实现高精度3D扫描

来源：世界电子元器件, 2018, (08): 15-20.

<正>三维(3D)扫描是一种功能强大的工具,可以获取各种用于计量设备、检测设备、探测设备和3D成像设备的体积数据。当设计人员需要进行毫米到微米分辨率的快速高精度扫描时,经常选择基于TI DLP?技术的结构光系统。3D扫描系统的诞生简单的二维(2D)检测系统已经问世多年了,其工作机制通常是照亮物体并拍照,然后将拍摄图像与已知的标准2D参考件进行比较。3D扫描则增加了获取体积

• 出版日期2018