在存储测试领域,对存储测试产品的考核越来越严格。通常情况人们对传感元件的校核极为重视。通主要关心传感元件的独立特性,如灵敏度、线性度、频率响应等等,然而实际的测试系统不但由传感元件组成,还有其他的一些串联系统,这些都会对测试的结果产生影响,因此,对这些存储设备的校准需要研制一些特殊的校准设备。
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