低能大流强氦离子辐照对钼的表面损伤作用

作者：王研; 范红玉; 吕梦尧; 周耿仟; 关延民; 牛金海

来源：核技术, 2014, (12): 25-30.

• He+辐照
• 钼
• 表面损伤
• 导电原子力显微镜 He+ irradiation
• Molybdenum(Mo)
• Surface damage
• Conductive atomic force microscopy(CAFM)

钼(Mo)材料被作为托卡马克装置中面向等离子体材料的候选材料被广泛研究,因此研究钼材料的辐照损伤行为对于认识聚变堆关键材料的辐照损伤机制具有重要意义。采用低能(100 e V)、大流强(约1021 ions·m-2·s-1)He+在600 oC对钼样品进行辐照实验,考察了离子辐照剂量和退火温度变化对钼材料的表面损伤作用。分别采用扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)和无损伤的导电原子力显微镜(Conductive Atomic Force Microscopy,CAFM)检测技术对辐照前后样品的微观形貌、微结构演化以及内表面缺陷分布等进行了对比研究。结果表...

• 出版日期2014
• 单位大连民族大学