对硬质合金刀具涂层和基体之间的过渡层进行了元素的能谱分析,研究了分析软件中钨元素(W)线系选择对半定量分析和不同元素线分布的影响。结果显示,当钨元素分别选用M线系和L线系进行分析时,会影响半定量结果;涂层中的Ti和基体中的W的计数率在线分布谱图上会呈现不同的变化趋势,选用M线系标定更符合实际情况。此外,由于涂层中Si的Kα特征X射线能量和基体中W的Mα特征X射线能量非常接近,可能造成Si和W谱峰误判,要根据具体情况具体分析,必要的时候选用软件的Truline功能可以纠正。
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
