某些硫代磷酸酯化合物的负离子电子轰击质谱(NIEI-MS)

作者：朱育芬; 唐大志; 詹东亮; 金京秀

来源：应用化学, 1990, (01): 28-32.

• 硫代磷酸酯
• 负离子电子轰击质谱
• 分子异构化重排 phosphonothionate
• negative ion electron impact mass spectra
• isomeric rearangement

本文应用低分辨负离子电子轰击质谱及亚稳分析数据,研究了10种硫代磷酯酸化合物的负离子质谱特征,探讨了其碎裂规律。指出取代基的性质及其位置对分子异构化重排有明显影响。

• 出版日期1990
• 单位中国科学院广州化学研究所