K边界技术在Purex流程中的应用

作者：许小明张文良唐培家

来源：原子能科学技术, 2004, (04): 350-353.

• K边界
• X荧光
• Purex流程
• 物料衡算 K-edge
• X-ray fluorescence
• Purex process
• accounting

利用现有混合式K边界 /X荧光测量装置在Purex流程中进行了应用研究。根据Purex流程样品分析要求 ,进行了装置硬件改造调试、数据分析软件改进 ,并完成了条件实验及大量样品的测量分析 ,为实现U、Pu物料衡算提供了可靠依据

• 出版日期2004
• 单位中国原子能科学研究院