在光栅投影三维测量系统中,由于被测物体表面不光滑,光栅无法完全覆盖其表面,导致被测目标存在阴影区。阴影区不携带条纹信息,因此该区域内的目标信息无法有效提取。提出一种改进K-means聚类算法自动完成光栅投影轮廓有效点提取,并结合Otsu法对有效点分类进行优化。实验结果表明在1 024×1 280大小的调制图上,提出的算法耗时仅为传统K-means算法的58.18%,并且提取有效点增加了2.11%,验证了算法的有效性和高效性。
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