主要研究BIT(built-in-test)间歇报警的产生原因及其引起虚警/漏检的模式和机理,同时以轴承振动信号为例进行说明,并给出系统故障决策的改进途径。首先分析系统的故障形式及测试原理,总结了BIT的报警模式和内涵。其次分析了测试过程中各种干扰因素,并且评估其在故障测试中的重要性。再次通过给出间歇故障和外界干扰对系统影响的例子,讨论其导致BIT报警的内在机理。最后给出如何通过详细分析BIT的报警原因,从而正确判断系统故障的途径。
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