作为星载设备信号处理核心器件,SRAM FPGA的单粒子效应加固及加固方法验证始终备受关注。文中研究了三模冗余和动态刷新两种加固方法,并设计了故障仿真验证方法,试验应用故障注入技术,采用比对方法,成功对加固方法进行了验证。试验结果显示,文中设计的加固方法可提高抗单粒子性能。
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