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摘要
<正> 进入80年代以来,中能区的电子散射全截面的精确测量引起了广泛的兴趣.Zecca 等人、Garcia 等人、Wagenaar 等人以及 Kauppila 等人相继建立起了自己的电子散射全截面测量装置,但至今在800eV 以上能区的数据仍然很少并且相互差异较大,Zecca 等人和Kauppila 等人采用的还是传统的 Ramsauer 技术,在高能区由于角分辨较差,其全截面数据有相当大的系统误差.因此,对高于800eV 能区的电子散射全截面的精确实验测量仍然很
- 出版日期1993-11-27
- 单位中国科学技术大学
