开路电压与太阳电池少子寿命关系的推导及其应用的研究

作者：彭银生; 陈庭金

来源：太阳能学报, 2008, (01): 50-54.

DOI：10.3321/j.issn:0254-0096.2008.01.010

• 太阳电池
• 开路电压衰减法测量
• 少子寿命

从理论上详细推导了晶体硅太阳电池在脉冲光照下,开路电压V_(?)(t)与少数载流子寿命的关系,同时研究了N-P结势垒电容放电时对V_(?)(t)的影响;从实验上验证了开路电压随时间的衰减关系。并运用该关系测量了硅太阳电池少数载流子寿命,测量结果较为准确。

• 出版日期2008
• 单位海南医学院; 云南师范大学