AgInSbTe薄膜的短波长记录性能分析

作者：魏劲松; 阮昊; 陈仲裕; 干福熹

来源：光学学报, 2002, 22(11): 1281-1285.

DOI：10.3321/j.issn:0253-2239.2002.11.001

• AgInSbTe薄膜
• 记录畴
• 记录性能

采用自制的装置研究了Ag5In5Sb47Te3 3 薄膜的静态记录性能与记录激光的功率和脉冲宽度的关系 ,并对其记录畴形貌特点进行了直接观察。结果表明只有记录激光的功率和脉冲宽度在一定范围之内才能起到信息记录的作用 ,所得的记录畴形貌十分清晰 ,基本为非晶态Ag5In5Sb47Te3 3 ;小于该范围的激光能量不能使材料结构发生较大的变化 ,所得的记录畴形貌模糊 ,反射率对比度低于 2 % ;大于该范围所得的记录畴由烧蚀区和其周围的非晶态Ag5In5Sb47Te3 3 组成。另外 ,得到了记录激光功率为 12mW、脉冲宽度为 90ns的Ag5In5Sb47Te3 3 薄膜的短波长最佳记录条件 ,其记录畴的反射率对比度为 2 2 % ,直径为 380nm～ 4 0 0nm。

• 出版日期2002
• 单位中国科学院上海光学精密机械研究所