登录
免费注册
首页
论文
论文详情
赞
收藏
引用
分享
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
Mass and bond density measurements for PECVD a-SiCx:H thin films using Fourier transform-infrared spectroscopy (vol 357, pg 3602, 2011)
作者：King S W
*
; Bielefeld J; French M; Lanford W A
来源：
Journal of Non-Crystalline Solids
, 2013, 378: 291-291.
DOI：10.1016/j.jnoncrysol.2013.06.021
出版日期
2013-10-15
全文
全文
访问全文
相似论文
引用论文
参考文献
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
