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摘要
本发明公开了一种电子元件发热强度分配优化方法,包括以下步骤：在基板区域中放置若干电子元件,固定所有电子元件的位置,并给定与元件数量相等的发热强度序列；发热强度按照由小到大的顺序分配到电子元件,每次分配一个发热强度时,已分配强度元件的发热强度保持不变,找到未确定位置的发热强度的次小值,将未分配强度元件的发热强度设定为次小值,并采用数值方法得到区域的温度分布；根据温度分布,找到未分配强度元件中温度最高的元件,将其发热强度设定为最小值,该元件成为已分配强度的元件；重复上述发热强度分配过程,直到所有的电子元件均成为已分配强度的元件,得到的结果即为最终的分配优化结果。
- 出版日期2022-6-1
- 单位华南理工大学
