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Non Destructive Thickness Analysis in Triple Ni/Cr Thin Film Using Electrolytic Etching and Potential Determination Process
作者:Choi Jong Chan; Lee Jae Ho
来源:
Nanoscience and Nanotechnology Letters
, 2017, 9(8): 1237-1240.
DOI:10.1166/nnl.2017.2469
出版日期
2017-8
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