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Benchmark test on surface potential based charge-sheet model (vol 50, pg 263, 2006)

作者：He, Jin*; Zhang, Xing; Zhang, Ganggang; Wang, Yangyuan
来源：Solid-State Electronics, 2006, 50(11-12): 1838-1838.
DOI：10.1016/j.sse.2006.09.011

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更新时间：2023-07-30 05:38