摘要

气体介质绝缘强度与分子微观参数的关联研究,有利于提高SF6替代气体的研发效率。本文基于密度泛函理论,采用M06-2X泛函与def2系列基组,建立73种气体分子稳定结构,计算表征电子概率密度差的福井函数参数,分析其与绝缘强度的相关性,最终建立相应预测模型。结果表明:微观参数中亲电指数、局部简缩亲电指数最小值、局部简缩亲核指数最小值、分子体积、局部表面亲电指数极大值、局部表面亲核指数极小值与绝缘强度的相关性较强,预测模型在电子概率密度为0.000 05 a.u.时,可决系数达到最大值为0.812,均方误差为0.094。

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