本文主要阐述基于应用管理科学的理论和方法来研究芯片测试项目管理，并提出优化芯片测试项目管理的建议。研究发现M（上海集成电路技术与产业促进中心检测实验室）检测实验室在UHF芯片检测项目中存在管理问题，因此提出了基于管理学模型的优化方案，从而提高M检测实验室在UHF芯片检测项目上的效率。
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