低频噪声作为电子元器件筛选与可靠性评估的一种重要手段,其测量的准确性问题一直是研究的热点。针对影响低频噪声测量系统准确性的因素,提出了一种改进型的低频噪声测量方法。该方法利用双通道互谱估计法,通过增加通道数目且按步骤进行测量,可以消除测量放大器的背景噪声对测量结果的影响。仿真结果表明,与传统测量系统相比采用改进型测量方法的测量系统背景噪声降低了50%,明显地提高了低频噪声测量结果的准确性。
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