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摘要
目前,国际最高光辐射功率基准为低温辐射计,其可探测光谱范围覆盖真空紫外到太赫兹波段(115 nm～THz),利用真空低温超导条件下的电替代测量原理,将光辐射功率参数溯源到可以精确测量的电参数进行高精度测量,实现超宽光谱范围的光辐射绝对功率测量,其测量不确定度达到10-5量级,尤其在国防军事和光辐射计量领域,光电有效载荷、定量遥感、超高光谱成像以及光辐射量值溯源等应用领域具有不可替代的作用。低温辐射计黑体腔作为光辐射吸收的核心器件,具有光谱吸收平坦、 0.999以上的超高吸收比,其吸收率参数是影响低温辐射计高准确测量的主要因素之一。目前,针对低温辐射计黑体腔不同结构及涂层参数开展了很多的理论及仿真工作,但针对不同结构参数黑体腔吸收率的实验测量及比对工作还未见报道。因此,为实现低温辐射计宽光谱、高精度测量要求,光电子一级站开展了适用于低温辐射计的黑体腔研制及吸收率测量的研究工作。课题组研制了四种不同结构参数,以高电导无氧铜(OFHC)为材质,壁厚0.1 mm,内壁电镀镍磷黑(NiP)涂层的超高吸收率黑体腔;采用蒙特卡罗光线追迹算法分别对四种结构黑体腔吸收率进行了光学仿真,得到不同结构参数之间的吸收率差异;采用替代法测量吸收率,搭建了以高稳定光源、积分球系统组合的黑体腔吸收率测量装置,通过将标准白板与黑体腔之间切换,准确测量黑体腔吸收率,并分析了黑体腔吸收率的影响因素。实验结果表明:(1)通过比对仿真数据与实验测量结果,验证测量方法的有效性和测量数据的可靠性;(2)研制的黑体腔实现了(0.999 962±0.000 005)@632.8 nm的超高光谱吸收率,满足了低温辐射计的高精度测量要求;(3)斜底圆柱腔的吸收性能优于圆锥柱腔;(4)通过设计螺纹结构增加腔内表面积、设计圆锥口径类比光阑结构形式并没有明显增加黑体体吸收率。
- 出版日期2022
- 单位中国电子科技集团公司第四十一研究所
