对六阶微分系统广义低阶特征值进行定量分析,运用经典的Sturm-Liouville特征值定性理论,利用矩阵运算、分部积分、测试函数和Schwartz不等式等具体方法,找到了所论问题的主特征值与主特征向量间的关系,并获得了主次特征值之比的下界估计不等式,此界仅与系统的系数有关,而与所论区间的几何度量无关,其结果是参考文献结论的进一步推广。
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