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摘要
本发明实施例提供一种显著性检测方法及装置,其中方法包括：对原始图像以不同尺度分别进行超像素分割,获得不同尺度的分割图像；确定一定数量的低层次特征,计算每种尺度的分割图像在每个低层次特征下的第一特征图,对同一低层次特征下的所有尺度的第一特征图进行融合,获得各低层次特征的第二特征图；对于任意一种尺度的分割图像,利用暗通道和中心先验策略对所述分割图像进行优化,结合各低层次特征的第二特征图,获得所述分割图像的显著图；将所有尺度的分割图像的显著图进行集成,形成最终的显著图。本发明实施例使显著性计算更加合理和准确。
- 出版日期2018-11-20
- 单位武汉科技大学
