登录
免费注册
首页
论文
论文详情
赞
收藏
引用
分享
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
Displacement detection of silicon nanowires by polarization-enhanced fiber-optic interferometry (vol 93, 193110, 2008)
作者:Nichol John M
*
; Hemesath Eric R; Lauhon Lincoln J; Budakian Raffi
来源:
Applied Physics Letters
, 2009, 94(23): 239901.
DOI:10.1063/1.3152591
elemental semiconductors
light interferometry
nanowires
silicon
出版日期
2009-6-8
单位
西北大学
全文
全文
访问全文
相似论文
引用论文
参考文献