低能He~(2 )与He原子碰撞转移电离出射电子能谱研究

作者：冯文天; 马新文; 朱小龙; 张少峰; 刘惠萍; 李斌; 闫顺成

来源：原子核物理评论, 2010, 27(04): 500-504.

• 反应显微谱仪
• 转移电离
• ECC电子
• “准分子”模型 reaction microscope
• transfer ionization
• ECC electron
• quasimolecule model

利用反应显微成像谱仪对70和100keV He2 与He原子碰撞转移电离(TI)过程中不同出射角度的电子能谱进行了测量,观测到出射电子能谱具有如下分布特征:出射电子速度分布介于0和入射离子速度vp之间;在不同出射角度电子能谱分布均有一极大值存在,随着出射角度的增大,能谱分布极大值逐渐减小;当电子出射角度等于45°时,多数电子集中在0eV附近。上述特征可由低能离子-原子碰撞"准分子"模型进行定性解释。在100keV He2 -He转移电离出射电子能谱中有靶电子被俘获至散射离子连续态(electron capture to continuum,简称ECC)电子的贡献,这可看做是动力学两步过程的作用...

• 出版日期2010
• 单位中国科学院大学; 中国科学院近代物理研究所