(Gd1-xYx)2Si2O7:Ce混晶闪烁体的制备及性能研究

作者：冯鹤; 徐悟生; 张志军; 徐展; 肖丰; 赵景泰

来源：无机材料学报, 2017, 32(09): 931-935.

• 闪烁体
• 闪烁性能
• 混晶
• (Gd0.5Y0.5)2Si2O7:0.1%Ce

采用固相烧结法制备了(Gd1-xYx)2Si2O7:0.1%Ce(x=0.1,0.2,...0.7,1)的系列多晶样品,通过荧光激发发射光谱和X射线激发发射谱对该系列样品进行筛选,发现(Gd0.5Y0.5)2Si2O7:0.1%Ce的组分发光效率最高。采用浮区法生长了该组分单晶,并对该单晶的结构、荧光和闪烁性能进行了测试和讨论。XRD结果表明,(Gd0.5Y0.5)2Si2O7:0.1%Ce闪烁单晶为正交结构,紫外激发-发射谱、荧光衰减谱显示该晶体的发光主峰位位于362 nm,但由于Gd(6IJ)→Ce(5d3)的无辐射能量传递的存在,使样品出现211 ns的荧光慢分量。采用X射线激发发射谱,γ射线激发多道能谱和闪烁衰减谱对样品的闪烁性能进行了表征。结果表明,GYPS:Ce晶体的光产额为Ce掺杂硅酸钇镥标样的90%,由于该无辐射能量传递和较低的Ce掺杂浓度,单晶闪烁发光中存在较长的慢分量,闪烁衰减慢分量成分占到总发光的87%。

• 出版日期2017
• 单位上海大学