电子元器件的失效往往与其承受的电应力是紧密相关的,降低其承受的电应力可以提高其使用可靠性。通过某型微波组件过电应力来源排查,提出了在电路中增加过流保护电阻,增加产品防静电保护包装,整机测试工位增加净化电源等措施,由此可以满足微波组件的使用需求,防止过电应力失效故障。
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