多断口真空开关的绝缘与击穿统计特性

作者：廖敏夫; 邹继斌; 段雄英; 孙辉

来源：电网技术, 2006, (05): 13-17+43.

• 双断口及多断口真空开关技术
• 击穿电压增益
• 击穿弱点
• 统计特性
• 高压电器 Technology of vacuum circuit-breakers with double-breaks or multi-breaks
• Improvement factor of breakdown voltage
• Breakdown weak points
• Statistical property
• High voltage apparatus

从长间隙真空开关的击穿特性出发,理论推导得到了双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增益倍数,并运用“击穿弱点”的概念和概率统计方法建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型,认为无论是双断口真空开关还是n个断口串联起来,其击穿的统计概率都比单断口的击穿统计概率小。建立了三断口真空开关试验模型, 对单断口真空灭弧室模型和三断口真空开关模型进行了大量的冲击击穿特性试验。研究表明,三断口真空灭弧室比单断口真空灭弧室具有更低的击穿概率,试验数据与理论分布曲线基本吻合。

• 出版日期2006
• 单位大连理工大学; 哈尔滨工业大学