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纳米测量精度光栅传感器研究综述
作者:马修水; 费业泰; 陈晓怀; 李桂华; 权继平
来源:
制造技术与机床
, 2006, (09): 69-72.
光栅纳米测量
双光栅测量系统
炫耀光栅
误差修正技术
二次莫尔条纹 Nanometrology Measuring Based on Grating
Measuring System of Dual Grating
Blazed Grating
Error Correction
Two Times Moire&rsquo
Fringe
摘要
概括分析了光栅纳米测量中双光栅测量系统、炫耀光栅测量系统、基于误差修正技术的光栅纳米测量系统、基于二次莫尔条纹原理的纳米光栅测量系统的测量原理,介绍了纳米测量精度光栅传感器研究的关键技术。
出版日期
2006
单位
安徽大学
;
合肥工业大学
;
浙江大学宁波理工学院
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