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A Novel Technique for Measuring One Dimensional Permittivity Profiles Using a Simple Non-Commensurate Planar Structure (vol 18, pg 155, 2008)
作者:Ogunlade Olumide
*
来源:
IEEE Microwave and Wireless Components Letters
, 2011, 21(9): 510-510.
DOI:10.1109/LMWC.2011.2162941
出版日期
2011-9
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