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A Comprehensive Design-for-Test Infrastructure in the Context of Security-Critical Applications

作者：Saeed Samah Mohamed*; Sinanoglu Ozgur
来源：IEEE Design & Test, 2017, 34(1): 57-64.
DOI：10.1109/MDAT.2016.2527708
  • 出版日期2017-2

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更新时间：2021-01-17 07:42