为了研究氨性硫代硫酸盐浸金体系中金溶解过程的电化学行为,采用Tafel极化曲线分析法,考察了S2O2-3氨、Cu2+EDTA和CMC对金的腐蚀电位和腐蚀电流密度的影响.结果表明一定浓度的S2O2-3、氨、Cu2+和一定量的EDTA、CMC均使金的腐蚀电位(Ecorr)降低,表明金容易被溶蚀;腐蚀电流密度(Jcorr)增大,极化电阻(Rp)减小,表明金溶蚀速率加快.