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摘要
现代测量仪器日益强大的功能与不断激烈的市场竞争对频谱分析仪的设计提出了新的挑战,基于可测试性的设计是解决这一问题的有效手段,它在设计上将仪器的功能性与可测性有机融合,有效地提高研发效率与产品质量。本文结合频谱分析仪课题中的实际应用情况探讨了可测试性设计技术。
- 出版日期2012
- 单位中国电子科技集团公司第四十一研究所
现代测量仪器日益强大的功能与不断激烈的市场竞争对频谱分析仪的设计提出了新的挑战,基于可测试性的设计是解决这一问题的有效手段,它在设计上将仪器的功能性与可测性有机融合,有效地提高研发效率与产品质量。本文结合频谱分析仪课题中的实际应用情况探讨了可测试性设计技术。
