磁共振氧激发检测脑卒中缺血半暗带的研究进展

作者：高安康; 张勇; 程敬亮

来源：临床放射学杂志, 2015, 34(12): 2016-2018.

DOI：10.13437/j.cnki.jcr.2015.12.042

• 磁共振
• IP
• PDM
• 缺血半暗带
• OC
• 磁敏感伪影
• 脑卒中
• 研究进展

<正>目前,脑卒中(stroke)是世界范围内第二大死亡原因[1],急性缺血性脑卒中(acute ischemic stroke,AIS)是最常见的脑卒中类型,占全部脑卒中发病率的60%80%,严重危害人类健康和患者的生活质量,其最常见原因是血栓形成造成局部脑血管闭塞,目前溶栓治疗成为临床唯一的标准化对因治疗方法。缺血半暗带(ischemic penumbra,IP)的存在

• 出版日期2015
• 单位郑州大学第一附属医院