厚膜混合集成电路可靠性技术

作者：罗俊; 秦国林; 李晓红; 邓永芳; 邢宗锋

来源：微电子学, 2011, (01): 111-115.

• 混合集成电路
• 可靠性
• 失效模式
• 失效机理 Hybrid integrated circuit
• Reliability
• Failure mode
• Failure mechanism

总结了混合集成电路的主要失效模式,在此基础上,主要从混合集成电路的设计和工艺两方面分析了其产生的原因,通过设计、工艺、原材料和元器件等方面采取对策和措施,达到提高混合集成电路可靠性的目的。

• 出版日期2011
• 单位中国电子科技集团公司第二十四研究所