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摘要
介绍通过可靠性强化试验(RET)来实现某微波组件质量与可靠性快速稳定的方法。该方法主要包括通过可靠性强化试验以及通过加强的使用环境应力试验来暴露某微波组件的潜在缺陷和薄弱环节,然后对强化试验期间发生的问题分析原因,将强化试验暴露的故障模式和产品研制过程中出现的故障模式对比得出可靠性强化试验能快速增长可靠性并使质量稳定的结论。尽可能地制定可行的改进设计方案,再次通过可靠性强化试验验证产品改进有效。
- 出版日期2013
- 单位中国电子科技集团公司第三十八研究所
介绍通过可靠性强化试验(RET)来实现某微波组件质量与可靠性快速稳定的方法。该方法主要包括通过可靠性强化试验以及通过加强的使用环境应力试验来暴露某微波组件的潜在缺陷和薄弱环节,然后对强化试验期间发生的问题分析原因,将强化试验暴露的故障模式和产品研制过程中出现的故障模式对比得出可靠性强化试验能快速增长可靠性并使质量稳定的结论。尽可能地制定可行的改进设计方案,再次通过可靠性强化试验验证产品改进有效。
