高分辨率电子能量损失谱在材料科学中的应用

作者：王乙潜; 杜庆田; 丁艳华; 梁文双; 段晓峰

来源：物理, 2010, (12): 839-843.

• 高分辨电子能量损失谱
• 近限精细结构
• 半导体带隙 high-resolution electron energy-loss spectroscopy
• energy-loss near edge structure
• bandgap

简要介绍了FEI Titan80-300STEM扫描透射电镜中装配的Wien-filter型能量单色器(monochromator).文章特别指出,装配有能量单色器的FEI Titan80-300STEM扫描透射电镜,可以直接给出高能量分辨率(~0.1eV)的电子能量损失谱.利用高分辨电子能量损失谱,在高能损失区,对于K或L能级自然宽度(natural width of energylevel)小于0.5eV的元素,可以获得更细致的的近限精细结构(energy-loss near-edge structure),更有利于解析其电子结构;在低能损失区,可以用于精确地确定半导体材料的带隙(band...

• 出版日期2010
• 单位青岛大学; 中国科学院物理研究所