MeV离子轰击碳样品引起的碳氢团簇产额

作者：刘坤; 郑涛; 郭猜; 杨江燕; 田继挺; 聂锐; 马宏骥; 丁富荣

来源：原子能科学技术, 2014, 48(05): 769-772.

• 二次离子质谱
• 飞行时间
• 碳基材料
• 横向歧离 secondary ion mass spectrometry
• time-of-flight
• carbon material
• lateral straggling

利用北京大学2×1.7MV静电串列加速器产生的1.5MeV Au2+和Si+束流轰击碳纳米管样品,用二次离子飞行时间质谱方法分析了二次离子成分,通过质量已知的样品的定标,确认了轰击产生的二次离子质量。分析束流轰击后的二次离子产额,发现在此能量下二次离子产额与离子在物质中射程的横向歧离表现出正相关。

• 出版日期2014
• 单位北京大学; 物理学院