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Modeling and characterization of shielded low loss CPWs on 65 nm node silicon
作者:Wang Hongrui
*
; Yang Dongxu; Zhang Li; Zhang Lei; Yu Zhiping
来源:
Chinese Journal of Semiconductors
, 2011, 32(6).
DOI:10.1088/1674-4926/32/6/064009
65-nm node
CMOS
CMOS technology
CPW
CPW transmission line
Frequency-dependent
General model
Ground shields
High quality
Low loss
Millimeter wave frequency band
Passive devices
shield
Slow-wave effect
出版日期
2011-6
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