摘要

在密度泛函理论的框架下,采用广义梯度近似(GGA)研究了Eu_2Si_n(n=1~7)团簇的基态几何结构,系统计算了平均结合能E_b、二阶能量差分△_2E、最高占据轨道(HOMO)与最低未占据轨道(LUMO)之间的能隙,并与已有的EuSi_n(n=2~8)团簇相关数据作对比分析.研究表明:单Eu原子比双Eu原子掺杂的Si团簇具有更高的稳定性,EuSi_3、EuSi_6、Eu_2Si_4团簇较相应邻近团簇结构稳定;Eu_mSi_n(m=1~2,n=l~8)团簇的能隙随着团簇总原子数的增加呈现振荡变化,态密度分析得到能隙振荡变化的原因是S原子的s轨道与Eu原子的p轨道发生了杂化.