奥氏体不锈钢在400～720℃下的电子辐照成核和肿胀

作者：钱家溥陆丽萍孙继光赵卓雍

来源：中国核科技报告, 1994, S1: 31.

• 奥氏体不锈钢
• 电子辐照
• 固溶退火
• 高压电子显微镜
• 样品材料
• 孕育剂
• 偏向性
• 微结构
• 电子能量

用高压电子显微镜(HVEM)研究了被电子辐照的奥氏体不锈钢在400～720℃范围内,温度对其肿胀行为的影响。样品材料包括:固溶退火的316不锈钢(316SA)、冷轧316不锈钢(316CW)和加钛的奥氏体不锈钢(Ti-mod.SS),HVEM的电子能量为1MeV。研究了平均孔洞密度、平均孔洞直径、肿胀、肿胀率同孕育剂量与温度的关系。认为辐照温度影响样品的微结构、总尾闾强度和中性尾闾与偏向性尾闾强度之比,从而使316SA、316CW和Ti-mod.SS的孔洞成核、孔洞长大及肿胀行为有所不同。还研究了氦预植入对孔洞成核的影响,实验结果表明:氦虽成为活跃的孔洞核心,但对孔洞长大并无直接影响。

• 出版日期1994
• 单位核工业西南物理研究院; 北京有色金属研究总院