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Bl-AlN/TiN(001)界面结构与电子特性
作者:陈东; 马秀良
来源:
电子显微学报
, 2005, (04): 349.
界面结构
Bl-AlN/TiN
电子特性
立方结构
外延生长
赝势方法
超晶格
第一原理
显微结构
电子结构
出版日期
2005
单位
中国科学院金属研究所
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