大功率IGBT击穿故障分析及驱动保护电路设计

作者：张广智; 王琳琳; 赵伟华; 张伟光; 李全熙

来源：科技创新导报, 2012, (35): 29-30.

DOI：10.16660/j.cnki.1674-098x.2012.35.166

• 击穿
• 驱动
• 保护

该文通过对IGBT组成的H桥在大功率高速开关条件下进行大量实验,列举了IGBT发生击穿故障的多种原因,结合IGBT器件的结构分析其击穿过程及击穿表现,并通过计算提出了一种输出波形稳定的IGBT驱动电路以及相应的保护电路。

• 出版日期2012
• 单位哈尔滨师范大学