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纳米材料及器件的测量需求 2002年6月5~6日在英国特丁顿英国国立物理研究所进行的VAMAS-CENSTAR研讨会综述
作者:王忠祥
来源:
现代科学仪器
, 2004, (02): 70-73.
纳米测量
纳米器件
纳米磨擦学
会议
出版日期
2004
单位
北京市理化分析测试中心
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