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摘要
系统地研究了实际数字电路中冗余故障的特性 .详细深入地分析了 ISCAS85基准电路中 10个组合电路的全部 5 5 0个冗余故障 ,找出了它们各自形成的原因并将其分成 5类 .研究发现其中只有 3个故障是最难测的 ,算法中需要大量回溯 ;其它 5 47个故障只要按照电路结构和测试本身的规律来形成测试 ,则基本上无需回溯即可 .
- 出版日期2001
- 单位北京工业大学; 中国科学院计算技术研究所
系统地研究了实际数字电路中冗余故障的特性 .详细深入地分析了 ISCAS85基准电路中 10个组合电路的全部 5 5 0个冗余故障 ,找出了它们各自形成的原因并将其分成 5类 .研究发现其中只有 3个故障是最难测的 ,算法中需要大量回溯 ;其它 5 47个故障只要按照电路结构和测试本身的规律来形成测试 ,则基本上无需回溯即可 .
