Fe/SiO_2核壳复合粒子表面的XPS谱研究

作者：赵文俞; 张清杰; 官建国; 唐新峰

来源：硅酸盐通报, 2007, (01): 38-42+83.

DOI：10.16552/j.cnki.issn1001-1625.2007.01.009

• Fe/SiO2核-壳结构
• 纳米复合粒子
• 表面化学
• 电子结构
• XPS Fe/SiO2 core-shell structure
• nanocomposite particle
• surface chemistry
• electron structure
• XPS

采用XPS技术研究了Fe/SiO2核壳复合粒子的表面化学成分和电子结构。结果表明,表面化学成分仅由Si和O元素组成,表面Si存在4种电子结构,表面O存在5种电子结构。表面硅4种电子结构的Si2p电子结合能及归属为:102.91eV(51.18%)为Q4硅[Si(OSi)4],102.15eV(23.23%)为Q3硅[Si(OSi)3OH],103.98eV(18.70%)为Q2硅[Si(OSi)2(OH)2],101.35eV(6.89%)为Q1硅[Si(OSi)(OH)3];表面氧5种电子结构的O1s电子结合能及归属为:532.85eV(52.07%)为Q4硅基团中的氧,531.80eV(1...

• 出版日期2007